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GeminiSEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用，通過檢測(cè)和分析電子束與樣品之間的相互作用信號(hào)，可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的詳細(xì)信息。

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級(jí)結(jié)構(gòu)。

德國蔡司進(jìn)口掃描電子顯微鏡

德國蔡司進(jìn)口掃描電子顯微鏡模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生...

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀是一種科學(xué)儀器，用于分析物質(zhì)中的化學(xué)元素。它基于X射線熒光原理，通過照射樣品并測(cè)量由樣品發(fā)出的特定波長的熒光輻射來確定樣品中存在的元素及其相對(duì)含量。

日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀

日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有良好的性能和靈活性，能夠分析最復(fù)雜的樣品，它具有30微米的管子，這是業(yè)內(nèi)較薄的終端窗口管，用于檢測(cè)極低的光譜元素（低Z）。結(jié)合zui先jin的...

表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)IPC-650S系列產(chǎn)品特點(diǎn)：$n靈活的、多通道分組測(cè)試能力$n可根據(jù)測(cè)試不同的需求，建立多組測(cè)試模式，在1 - 4個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱里測(cè)試不同的樣品